- kV tối đa: 130 kV
- Công suất chùm electron tối đa: 10 W
- Nguồn tia X: Đèn phát tia X hở
- Kích thước tiêu điểm: 3 μm
- Tính năng nhận dạng khuyết tật: 2 μm
- Độ phóng đại hình học: 2046x
- Độ phóng đại hệ thống: lên đến 36000x
- Hệ thống hình ảnh: Varex 1313DX (1 Mpixel, 16 bit) Flatpanel
- Điều khiển: 4 trục (X, Y, Z, T)
- Trục quay: Tùy chọn
- Độ nghiêng: 0-72°
- Thể tích đo lường:
- Hình vuông lớn nhất trong một bản đồ 406 x 406 mm (16 x 16″)
- Kích thước mẫu vật lý tối đa 711 x 762 mm (28 x 30″)
- Trọng lượng mẫu tối đa: 5 kg (11 lbs)
- Màn hình điều khiển: IPS 4k đơn ( 3840 x 2160 pixels)
- Kích thước cabin (R x S x C): 1200 x 1786 x 1916 mm (48 x 71.3 x 75.4″)
- Trọng lượng: 2100 kg (4629 lbs)
- An toàn bức xạ: <1 μSv/giờ ở bề mặt cabin
- Kiểm soát: Phần mềm kiểm soát và phân tích kiểm tra tia X
- Tự động kiểm tra: Tùy chọn
- Chụp cắt lớp vi tính/X quang: Tùy chọn
- Ứng dụng chính: Kiểm tra thiết bị điện tử thời gian thực
Máy kiểm tra thành phần điện tử X-ray Nikon XT V 130C
Liên hệ
LIÊN HỆ ĐỂ CÓ GIÁ TỐT
Mã: XT V 130C
Danh mục: Máy kiểm tra khuyết tật, Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Thẻ: Máy kiểm tra khuyết tật, Máy kiểm tra thành phần điện tử X-ray Nikon XT V 130C, Nikon, XT V 130C
Hãy là người đầu tiên nhận xét “Máy kiểm tra thành phần điện tử X-ray Nikon XT V 130C” Hủy
Sản phẩm tương tự
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.