Chưa có sản phẩm trong giỏ hàng.
Máy dò khuyết tật bằng phương pháp siêu âm Novotest UD2301
Liên hệ
LIÊN HỆ ĐỂ CÓ GIÁ TỐT
- Dải tần hoạt động: 1 đến 10,0 MHz
- Khoảng thời gian đo: 6-1000 ms
- Thang đo vận tốc: 1000 – 9999 m / s
- Lỗi đo các khoảng thời gian: không vượt quá ± 0.025 ms
- Lỗi tối đa cho phép đo biên độ các tín hiệu ở đầu vào máy thu trong khoảng 0~110 dB: không vượt quá ± 0,5 dB
- Dải đo gain kiểm tra: 125 dB
- Thang đo của các biến thời gian điều chỉnh độ nhạy (TVG): 40 dB
- Số điểm kiểm soát TVG: 15
- Thời gian các xung kích tới tải: 0,0 đến 0,5 ms
- Biên độ xung kích 50 Ohm, không ít hơn: 100, 200, 300
- Dải tần hoạt động của máy thu trên mức -3 dB: 1-10 MHz
- Độ lệch của biên độ tín hiệu đầu vào trong dải 10-100% chiều cao màn hình không quá 1 dB
- Scan: 1-1000 ms
- Trễ scan: 0-2000 ms
- Khoảng thời gian đo: 0-1000 ms
- Thiết lập trễ trong lăng kính của tàu đầu dò: 0-15 ms
- Tự động phát tín hiệu của các khuyết tật (AFS): hai cổng
- Dải cài đặt của cổng AFS: 0-2000 ms
- Điều chỉnh ngưỡng cổng AFS: 0-100% chiều cao màn hình
- Phát hiện các tín hiệu: positive half-wave, radio mode
- Kích thước (W * H * L): 80 * 162 * 38 mm
- Trọng lượng: 250 g (không pin)
- Thời gian trung bình giữa các lỗi: không ít hơn – 3000 giờ
- Tiêu chuẩn gói: Máy chính, 2 đầu dò UT, 1 cáp Lemo-Lemo , 3 pin AA, sạc, cáp USB để kết nối máy tính, hướng dẫn sử dụng và hộp đựng
Hãy là người đầu tiên nhận xét “Máy dò khuyết tật bằng phương pháp siêu âm Novotest UD2301”
Sản phẩm tương tự
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.