Chưa có sản phẩm trong giỏ hàng.
Máy đo độ dày lớp phủ Insize ISO-1200FN
- Đầu dò tương thích với cả chất nền kim loại từ tính và không từ tính
- Có thể đo độ dày lớp phủ không từ tính hoặc phi kim trên chất nền kim loại từ tính
Chất nền: sắt, thép, thép không gỉ từ tính (không sử dụng cho thép không gỉ không từ tính)
Lớp phủ: kẽm, nhôm, đồng, crôm, thiếc, nhựa, bột, sơn (không sử dụng cho niken) - Có thể đo độ dày của lớp phủ không dẫn điện trên chất nền kim loại không từ tính
Chất nền: đồng, nhôm, kém, thép không gỉ không từ tính
Lớp phủ: nhựa, bột, sơn, anod hóa (không dùng với lớp phủ mạ kẽm hoặc mạ crôm) - Có 3 chế độ đo: Fe, NFe, Fe/NFe
- Có thể lưu trữ 9 dữ liệu đo
- Dải đo: 0-2000 µm
- Độ phân giải:
0.1 µm với dải đo dưới 100 µm
1 µm với dải đo từ 100 µm đến dưới 1000 µm
0.01 mm với dải đo từ 1 mm đến 2 mm - Độ chính xác: ±(2 µm+3%L), L là độ dày đo được bằng µm
- Khoảng thời gian đo: 0.5 giây
- Chế độ hiệu chuẩn: Hiệu chuẩn zero
- Độ dày tối thiểu của chất nền:
Chế độ Fe: 0.2 mm
Chế độ NFe: 0.05 mm - Diện tích đo tối thiểu: Φ25 mm
- Bán kính tối thiểu của phôi cong:
Bề mặt lồi: 5 mm
Bề mặt lõm: 25 mm - Đơn vị đo: µm/mil
- Nguồn cấp: Pin AA 1.5 V x 2
- Kích thước máy chính: 101 x 62 x 28 mm
- Kích thước đầu dò: 71 x 26 x 22 mm
- Khối lượng: 114 g
- Trọn bộ giao hàng: máy chính, tấm hiệu chuẩn Fe, tấm hiệu chuẩn NFe, lá chuẩn 100 µm, pin AA 1.5 V x 2
Hãy là người đầu tiên nhận xét “Máy đo độ dày lớp phủ Insize ISD-1200FN”
Sản phẩm tương tự
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.