Chưa có sản phẩm trong giỏ hàng.
- Chuyển động trục Z: Thủ công (núm lấy nét thô/tinh hai bên)
- Giao diện trình điều khiển MM: Tích hợp
- Đầu quang học: Ống thị kính hai mắt C-TB, ống thị kính ba mắt LV-TI3, ống thị kính ba mắt nghiêng LV-TT2 (với đường chữ thập tích hợp sẵn)
- Thang đo tuyến tính trục Z: Không có
- Thị kính: CFI10x (Trường số 22), CFI10x CM (Trường số 22)
- Vật kính: Dòng CFI60-2 TU Plan Fluor EPI, dòng CFI60-2 TU Plan Fluor BD, dòng CFI60 L Plan Fluor EPI CR
- Bàn đặt mẫu: PS 6 x 4B, PS 4 x 4B, PS 2 x 2B
- Nguồn sáng:
- Nguồn sáng truyền qua: Đèn LED chiếu sáng truyền qua (tiêu chuẩn), nguồn sáng halogen 12V-50W (tùy chọn)
- Nguồn sáng phản xạ:: Đèn chiếu sáng LED màu trắng LV-EPI LED, đèn chiếu sáng phản xạ đa năng LV-U EPI2, đèn chiếu sáng phản xạ đa năng U EPI, đèn chiếu sáng phản xạ đa năng với hỗ trợ lấy nét LV-U EPI FA, đèn LED MM-LL (tùy chọn cho LV-U EPI và LV-U EPI2)
- Chiều cao mẫu tối đa: 150 mm
- Kích thước (R x S x C): 300 x 600 x 638 mm
- Trọng lượng (khoảng): 50 kg
Hãy là người đầu tiên nhận xét “Kính hiển vi đo lường chính xác cao Nikon MM-400U”
Sản phẩm tương tự
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.