Chưa có sản phẩm trong giỏ hàng.
- Chuyển động trục Z: Thủ công (núm lấy nét thô/tinh hai bên)
- Giao diện trình điều khiển MM: Tích hợp
- Đầu quang học: Đầu quang học một mắt, đầu quang học ba mắt, đầu FA quang học ba mắt
- Thang đo tuyến tính trục Z: Tích hợp
- Góc nghiêng thị kính: 25°
- Thị kính: Thị kính MM cho đầu quang học một mắt và CFWN10x cho đầu quang học ba mắt
- Vật kính: Vật kính kính hiển vi đo lường
- Bàn đặt mẫu: PS 6 x 4B, PS 4 x 4B, PS 2 x 2B
- Nguồn sáng:
- Nguồn sáng truyền qua: Đèn LED chiếu sáng truyền qua (tiêu chuẩn), nguồn sáng halogen 12V-50W (tùy chọn)
- Nguồn sáng phản xạ: Đèn LED chiếu sáng phản xạ
- Chiều cao mẫu tối đa: 150 mm
- Kích thước (R x S x C): 300 x 600 x 638 mm
- Trọng lượng (khoảng): 50 kg
Hãy là người đầu tiên nhận xét “Kính hiển vi đo lường chính xác cao Nikon MM-400L”
Sản phẩm tương tự
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.