Chưa có sản phẩm trong giỏ hàng.
Dòng M phù hợp nhất với khách hàng với các yêu cầu sau:
– Các bộ phận/ linh kiện rất nhỏ như các bộ phận trong linh kiện bán dẫn, đầu nối hoặc PCB
– Yêu cầu kiểm tra nhiều mẫu hoặc vị trí trên mỗi lô sản phẩm
– Lớp phủ rất mỏng (<100nm)
– Thời gian đo rất ngắn (1-5 giây)
– Đảm bảo đáp ứng IPC-4552A, 4553A, 4554 và 4556
– ASTM B568, DIN 50987 và ISO 3497
– Dải nguyên tố đo: 13Al – 92U
– Bộ phát tia X: 50W, 50kV, 1mA
– Bộ thu tín hiệu: SDD cho độ phân giải tốt hơn 135eV
– Số lớp đo tối đa: 5 lớp tính cả nền
– 4 lọc tia X sơ cấp
– Hệ thống quang học mao mạch cho chùm tia 15um FWHM
– Độ sâu tiêu cự: cố định tại 0,05inch (1,27mm)
– Độ phóng đại camera: 250X (camera kép), 45X (camera đơn)
– Kích thước bàn mẫu (x,y): 431mm x 460mm
– Kích thước trong: R310 x D340 x C137mm
– Kích thước ngoài: R450 x D600 x C500mm
– Khối lượng 70kg
– Nguồn điện: 150W, 100-240VAC chưa bao gồm máy tính
Hãy là người đầu tiên nhận xét “Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X M series”
Sản phẩm tương tự
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.