Chưa có sản phẩm trong giỏ hàng.
Dòng O phù hợp nhất với khách hàng với các yêu cầu sau:
– Các bộ phận/chi tiết rất nhỏ như chất bán dẫn, đầu nối hoặc PCB
– Yêu cầu kiểm tra nhiều mẫu hoặc nhiều vị trí trên mỗi lô
– Cần đo lớp phủ rất mỏng (<100nm)
– Thời gian đo rất ngắn (1-5 giây)
– Đảm bảo đáp ứng IPC-4552A, 4553A, 4554 và 4556
– ASTM B568, DIN 50987 và ISO 3497
– Dải nguyên tố đo: 13Al – 92U
– Bộ phát tia X: 50W, 50kV, 1mA
– Bộ thu tín hiệu: SDD cho độ phân giải tốt hơn 135eV
– Số lớp đo tối đa: 5 lớp tính cả nền
– 2 lọc tia X sơ cấp
– Hệ thống quang học mao mạch cho chùm tia 80um FWHM
– Độ sâu tiêu cự: cố định tại 0,1inch (2,54mm)
– Độ phóng đại camera: 50X (đơn camera)
– Kích thước bàn mẫu (x,y): 381mm x 340mm
– Kích thước trong: R310 x D340 x C140mm
– Kích thước ngoài: R450 x D600 x C450mm
– Khối lượng 53kg
– Nguồn điện: 150W, 100-240VAC chưa bao gồm máy tính
Hãy là người đầu tiên nhận xét “Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X O series”
Sản phẩm tương tự
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.