Dòng B phù hợp nhất với khách hàng với các yêu cầu sau:
– Yêu cầu sản lượng kiểm tra thấp
– Với các mẫu lớn chỉ yêu cầu phân tích 1 điểm mỗi mẫu
– Mẫu bảng mạch PCB lớn chỉ yêu cầu kiểm tra 1 số điểm ngẫu nhiên.
Hạn chế về ngân sách mua sắm nhưng thiết bị có khả năng nâng cấp sau này
Đảm bảo đáp ứng IPC-4552A, 4553A, 4554 và 4556
Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X B series
Liên hệ
LIÊN HỆ ĐỂ CÓ GIÁ TỐT
SKU: B Series
Danh mục: Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT, Máy đo độ dày
Thẻ: B Series, Bowman, Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X B series, Máy đo độ dày
– Dải nguyên tố đo: 13Al – 92U
– Bộ phát tia X: 50W, 50kV, 1mA
– Bộ thu tín hiệu: Silicon thể rắn cho độ phân giải tốt hơn 190eV
– Số lớp đo tối đa: 5 lớp tính cả nền
– 4 lọc tia X sơ cấp
– Collimator đơn
– Độ sâu tiêu cự: cố định với bộ Laser
– Độ phóng đại camera: 30X tiêu chuẩn
– Kích thước trong: R310 x D335 x C140mm
– Kích thước ngoài: R450 x D600 x C450mm
– Khối lượng 34kg
– Nguồn điện: 150W, 100-240VAC chưa bao gồm máy tính
Hãy là người đầu tiên nhận xét “Máy đo chiều dày lớp mạ bằng tia X B series” Hủy
Sản phẩm tương tự
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT
Liên hệ
Kính hiển vi - Microscope
Liên hệ
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.